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CST-50冲击试样缺口投影仪 功能与特点 CST-50型冲击试样缺口投影仪是为检查夏比V型或U型冲击试样缺口质量而设计、开发的一种专用光学仪器，试样放大后的影像与刻在投影屏上的冲击试样缺口标准样板图进行对比，以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格，对比直观，操作简单，效率高。是理化试验室的必备专用设备。 主要技术参数 投影屏： 200×200mm 放大倍数： 50X 光源： 12V 100W（卤钨灯） 电源： 220V 50Hz 150W 外型尺寸： 515×224×603mm 重量： 约18Kg |
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