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仪准科技(北京)有限公司
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probe 探针台 探针测试
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主要用途
通过微探针连接到芯片并引出所需信号,用于电学特性测试
性能参数
放大倍数50X,100X,200X,500X
8个探针座
带屏蔽箱
应用范围
微小连接点信号引出,用于失效分析失效确认,FIB电路修改后电学特性确认等
联系方式
仪准科技(北京)有限公司
地址:北京市海淀区西小口路66号东升科技园D-3楼
电话:
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