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TESA轴类测量仪 本系统配置了高集成度双CCD线性光电传感器阵列，每个CCD阵列由数千个光敏象素组成。当工件被平行光照射，其影像投影在CCD阵列上时，光敏象素能细微的检测到工件影像的边缘变化并以电信号形式输出，再通过细分内插的机理，这种边缘变化的识别可达到小于一个光敏象素的水平。这些带有被测工件尺寸和形状特征的电信号由计算机采集，从而可以完成几何尺寸和形状公差的精确分析和测量。 |
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