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TRUMPF TQ 2500 QUALIFIER 平面测量仪 根据客户需要设计的，新型TRUMPF TQ2500 QUALIFIER 平面测量仪是一个以光/激光为测量手段的坐标测量系统。该系统能进行全飞行光路方式测量，其扫描速度不受零件的复杂性和相关的几何学原理的影响。 测量范围 2500 mm x 1250 mm; 1250 mm x 1250 mm 高度测量范围 40 mm 测量误差 20 + L/100 微米 |
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