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道姆光学科技(上海)有限公司
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TRITOP 光学三维坐标测量系统
便携式 TRITOP CMM 摄影测量系统可以快速准确地测量物体的三维坐标。相对传统接触式三维坐标测量仪而言,现在可以用 TRITOP CMM 系统更轻松地展开测量工作。不需要任何复杂、沉重和精密维护的硬件,让测量仪轻松地趋近物体就行!
TRITOP 技术优点
•整套三维测量仪的组件极少(两个仪器箱共重 23 公斤)
•测量过程中无须接触被测物体
•对于大型物体也能确保高精度测量
•无磨损,也不会降低精度
•易于操作
•不受环境条件影响(气候环境试验箱、露天等)
应用范围
•板金件和车身的检测
•大型物体的质量控制(如飞机、船舶、风力涡轮等)
•塑件的检验(如初样检验)
•夹具的检验和记录
•模型和原型的测量(如汽车内饰和外观设计)
•管路和电缆的三维形状的验证
•汽车和气候箱测试的变形分析
联系方式
道姆光学科技(上海)有限公司
地址:上海市浦东新区科苑路88号德国中心1号楼318室
电话:
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