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半导体分立器件动态参数测试系统 LX9600分立器件动态参数测试系统是由北京励芯泰思特测试技术有限公司自主研制、开发、生产的半导体分立器件动态参数测试的专用设备, 通过使用不同类型的测试头对半导体器件进行非破坏性瞬态测试。用于MOSFET、IGBT、快恢复二极管、双极型三极管的动态参数测试。测试原理符合相应的国家标准、国家军用标准，系统为模块化、开放式结构，具有升级扩展潜能。 |
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