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IC集成电路老化测试座 IC集成电路老化测试座 该产品用于航空航天、军工、科研单位以及集成电路生产企业，可配进口老化台、老化板做器件及高、低温测试、老化筛选作连接之用。 产品型号及规格； 4M-68J 主要技术指标； 间距；1.27mm 环境温度；-55℃—+155℃接触电阻；≤0.01欧 工作电压；DC500V 单脚插入力；≤0.2Kg 弹片金层厚度；1um镍3um金 封装形式：CPGA |
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