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LJZ型双列集成电路老化测试插座 LJZ型双列集成电路老化测试插座 该系列插座适用于DIP封装的双列直插式集成电路的老化、测试、筛选及可靠性试验作连接之用。该产品广泛运用于航空航天、军工、科研院所、电子、通讯 产品型号及规格； LJZ-8J、14、16、18、24、28、40 主要技术指标； 间距；2.54mm环境温度；-55℃—+155℃ 接触电阻；≤0.01欧 工作电压；DC500V 单脚插入力；≤0.2Kg 弹片金层厚度；1um镍3um金 |
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