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单排IC集成电路老化测试座 单排IC集成电路老化测试座 该系列插座适用于DIP封装的单排直插式集成电路的老化、测试、筛选及可靠性试验作连接之用。该产品广泛运用于航空航天、军工、科研院所、电子、通讯 产品型号及规格； IC-10J IC-21J 主要技术指标； 材料：陶瓷 磷青铜 间距；2.54mm环境温度；-55℃—+255℃ 接触电阻；≤0.01欧 工作电压；DC500V 单脚插入力；≤0.2Kg 弹片金层厚度；1um镍3um金 插拔寿命；高低温状态下插拔寿命；2000-3000次 |
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