| 深圳市傲内电子有限公司 | ||
| 公司信息 | 产品/服务 | 公司新闻 |
|
PL Mapping快速扫描荧光光谱仪 PL Mapping快速扫描荧光光谱仪 NANOMETRICS RPM2000 1.可对半导体Wafer进行微区均匀性测量和表面分析 2.可测Wafer单点的PL光谱，并给出峰位、峰强、半高宽和 积分强度的数据 3.可进行膜厚和VCSEL特性的反射测量 4.波长范围：340～1700nm 5.波长精度：≤0.01um 6.最高分辨率：0.52nm |
|
联系方式 深圳市傲内电子有限公司 地址：深圳市宝安区石岩镇台湾工业区三重大厦B栋2楼 电话： 请点击此处与厂家联系 |
| 电脑版 | 客户端 | 关于我们 |
| 佳工机电网 - 机电行业首选网站 | ||