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Waltrontech Walscan全自动 3D锡膏测厚机
Waltrontech Walscan全自动 3D锡膏测厚机
别名：3维锡膏测厚机，3D锡膏测厚仪，3维锡膏测厚仪、SPI 3D锡膏测厚仪
Walscan系列3D锡膏测厚仪 功能简介：
1、 130M CCD+高清工业镜头+高精伺服驱动系统；2、5挡变倍设定 （20X-110X高精可调镜头）；3、±2μ重复测量精度；精密检测，01005 以及其他各种情况； 4、全自动快速的测量，友善的人机软件界面； 5、多种测量方式，一键式自动测量,半自动测量方式和手动测量方式，MicroM平面几何测量；6、Z轴自动对焦，自动补偿板弯功能，提高测量精度； 7、初始PCB全板扫描，缩略图导航，快速定位测量位置； 8、 WaltrontechSPC分析功能，自动生成报表以及各项统计参数。9、可以根据客户定制各种个性化控制与统计

产品特点:
1、 精准 ±2μ重复测量精度； 对应01005，uBGA，FPC，其他各种测量情况； XY，Z轴自动对焦，自动补偿板弯功能。
2、 性价比极高，可以针对客户特殊要求定制 强大WaltronSPC统计及报表功能，涵盖目前需要的所有统计及报表，编程快速，操作简单易用，全自动操作。
3、Mark点自动对位offset校正，位置容差校正；精确3维图像重组，放大，缩小，比对等。

主要技术参数
应用范围 锡膏、红胶、共平面度、其他精密高度测量
量测项目 高度、体积、面积、3D形状、全部平面几何测量，MicroM测量
量测原理 激光三角测量法
操作软件 中文简体，中文繁体，英文
测量光源 半导体级精密测量激光线
扫描速度 60 Frames/sec
最高分辨率 高度2μm，X、Y 5um
重复精度 +/- 2 μm
扫描范围 标准型号300*300mm，其他可定制
WaltrontecSPC软件 产品名/生产线/锡膏规格/钢网/工艺参数管理， 最大高度/最小高度/平均高度/面积/体积， X-BAR、R-CHART、直方图，CP/Cpk/PP/PPK，GR&R 管理， 报表编辑输出
操作系统 windows (XP,Win7)

联系方式
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地址：广州经济开发区锦绣路明华三街1号4楼
电话： 请点击此处与厂家联系
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