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西安交通大学模具与先进成形技术研究所
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显微数字图形相关法全场应变测量分析系统
web: www.xjtuom.com

西安交通大学在“XJTUDIC 三维数字散斑动态应变测量分析系统”基础上，发展出四种显微数字图形相关法全场应变测量分析系统：

1. 基于单光路光学显微镜的二维全场应变测量
2. 基于体式显微镜的三维全场应变测量
3. 基于电子显微镜的二维全场应变测量
4. 基于电子显微镜的三维全场应变测量

一、基于单光路光学显微镜的二维全场应变测量
普通光学显微镜多为单个光路，特点是价格便宜、放大倍数大，使用简单方便，是目前用量最大的显微镜。普通光学显微镜应用在全场应变，只能用于二维应变测量（也称为片内测量），较难用于三维全场应变测量。各种光学显微镜与“XJTUDIC 三维数字散斑动态应变测量分析系统”配合使用，可以快速方便地实现二维全场应变测量分析

二、基于体式显微镜的三维全场应变测量
基于体式显微镜的三维全场应变测量采用CMO型体视显微镜（Common Main Objective ，CMO），配合“XJTUDIC 三维数字散斑动态应变测量分析系统”进行三维全场应变测量分析。
CMO型体视显微镜光路体式显微镜（Stereo Light Microscope，SLM）具有两个光路，分为两种类型：Greenough 型体视显微镜(G-SLM)和CMO型体视显微镜(CMO-SLM)。G-SLM结构简单，加工相对容易，价格也便宜，可批量生产，适用于工业流水线，但是G-SLM 的像面与聚焦面不平行，容易产生径向的图像失真，用于高精度的精密测量略显不足。CMO-SLM 的像面和聚焦面平行，适于实验室等高精密环境中，但CMO-SLM 价格偏高，加工过程复杂。

三、基于电子显微镜的二维全场应变测量
“XJTUDIC 三维数字散斑动态应变测量分析系统”配合各种扫描电子显微镜(Scanning ElectronMicroscope，SEM) 和原子力电子显微镜（atomicforce microscopy，AFM），可以快速方便实现二维全场应变测量。

四、基于电子显微镜的三维全场应变测量

与各种扫描电子显微镜(Scanning ElectronMicroscope，SEM) 和原子力电子显微镜（atomicforce microscopy，AFM）配合，也可实现三维全场应变测量，需要进行多角度测量，利用工业摄影测量三维重建的原理，配合“XJTUDIC 三维数字散斑动态应变测量分析系统”实现三维全场应变测量。随着科学技术的不断发展，微纳技术己经成为当今科技发展的前沿科学之一。显微镜是显微视觉系统的标志性设备，显微镜技术的发展推动和加快了显微视觉系统的发展及应用，尤其是现代显微镜具有高倍率、高分辨率和高清晰度等卓越性能，可以提供高质量的图像，极大地提高了显微视觉系统的分辨能力。显微视觉的发展带动了相关理论与技术的进步，为了适应和进一步促进显微视觉的发展，图像分析、图像处理与测量技术等均在不断地发展并涌现了大量新方法。显微视觉中的显微立体视觉能够实现立体成像功能，近年来越来越受到重视，在微操作、微装配、微注射、微测量等领域得到了广泛的应用。显微立体视觉系统不同于宏观立体视觉系统的显著特点就是在成像过程中加入了放大环节，因此，显微镜是实现显微立体视觉系统不可或缺的组成部分。扫描电子显微镜 (Scanning Electron Microscope，SEM) 具有放大倍率高、焦深大、分辨率高等特点，是这一领域应用较多的一种显微镜，但其不足之处是操作复杂且设备昂贵。相对于扫描电子显微镜，体视显微镜(Stereo Light Microscope，SLM)在这方面的应用相对少些。SLM 具有工作空间大、工作距离大、便于微观对象的操作、非接触式观测、对微观对象无损伤和实时性好等优点，它的应用日益广泛。

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