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FT-361FM系列低阻四探针粉末电阻率测试仪  （点击图片放大） 一、概述： 四探针法测试超低阻材料方阻及电阻率，最小可以测试到1uΩ方阻值，是目前同行业中能测量到的最小值，采用高精度AD芯片控制，恒流输出； 适用于铝粉、铝材、铜粉、铜材、石墨类产品涂层性质或具有类似性质的低阻值产品的测量，用于生产企业、高等院校、科研部门，航空航天材料检验及分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。 自带温度，USB，232通讯接口，直流恒流源系统，提供四探针法和四端法两种测量模式并存，中英两种语言版本选择；选购：PC软件可以获得测试过程数据及变化图表曲线，包括压力与电阻，电阻率，电导率的变化关系，及报表生成，存储，打印等；选购：四探针法粉末测试平台提供全自动平台或手动操作平台两种； 选购配置四探针探头可以用于对涂层，薄膜，等半导体材料方阻的测量.本机采用双电组合测量方法. 二、满足标准：四探针测试仪满足GB/T 1551、GB/T1552-1995，ASTM F84美国A.S.T.M 标准；四探针法粉末测试平台依据GBT 30835-2014《锂离子电池用炭复合磷酸铁锂正极材料》中关于粉末电导率的测定方法中用于仲裁方法的四探针法要求制作. |
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