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GE推出新版X射线检测软件x\|act 1/1/2011

GE推出新型的x\|act 检测软件，以配合phoenix microme\|x and nanome\|x 180伏高分辨率X射线检测系统。该软件可应用于电子部件的手工检测，以及电子封装中焊点的全自动、基于CAD的X射线检测。x\|act 检测软件操作简易、可靠性更高，为制造提供实时的图像信息，确保了缺陷检测的高精确度。