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| 梅特勒-托利多庆祝XS分析天平获奖5周年 11/5/2009 | |
| 梅特勒-托利多XS分析天平自问世以来，受到了众多专家及用户的一致好评，并在2004年荣获了由美国著名科技杂志《R&D》颁发的R&D100大奖，以此表彰梅特勒-托利多为称量技术的创新做出的贡献。 为庆祝XS分析天平荣获R&D100大奖5周年，回报并感谢广大中国用户对梅特勒-托利多天平产品的一贯支持，同时使来自梅特勒-托利多的中文触摸屏和易巧称量组件等创新称量技术不断服务于中国用户，特此推出以下XP/XS分析天平产品的置换补贴促销活动。 只要购买XP/XS分析天平，用于替代AE/AG分析天平，并同意梅特勒-托利多公司回收替代型号天平或天平主要部件，就能享受额外的替换补贴，同时免费获得“良好的称量管理规范(GWP?)”建议书一份。 | |
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