安捷伦科技推出全新离子阱质谱仪-佳工网




安捷伦科技推出全新离子阱质谱仪 4/5/2004

2004年3月31日，安捷伦科技宣布一款代表安捷伦最高水平的离子阱质谱---LC/MSD Trap XCT预计将于今年7月正式投放市场。安捷伦科技离子阱质谱产品经理Ken Imatani介绍说，此款仪器采用了非线性离子阱质谱技术，灵敏度较其前一代同类产品提高了4倍。该型质谱可广泛应用于诸如新药开发、疾病研究过程中的生物标记鉴别等领域。LC/MSD Trap XCT采用了全新的检测器技术和改进后的生产工艺，对于利血平的检测灵敏度可达250飞克。