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JEDEC与IPC联合升级元器件评估标准J-STD-020E 3/9/2015
2015年2月6日,美国伊利诺伊州班诺克本—JEDEC固态技术协会与IPC—国际电子工业联接协会®近日发布最新E版J-STD-020《非气密固态表面贴装器件的潮湿/再流焊敏感度分类》标准。这份联合标准在业界应用十分广泛,它描述的是如何对潮湿敏感器件进行合理分类,来指导表面贴装器件的正确包装、储存、处置,以避免其在后续组装再流焊或维修过程中遭受热/机械损伤。J-STD-020标准中涵盖高温环境下的无铅器件和低温环境下的锡铅器件。最新E版标准,可查阅JEDEC官网或IPC官网。
E 版本中,在范围和应用等多方面有进一步的澄清说明以确保一致性。比如说:J-STD-020E参照了J-STD-075(工艺敏感等级)、JEDEC JESD-A113(预处理/再流焊)和JEDEC JEP160(长期储存)等标准,综合考虑bare-die with polymer与非IC元器件。另外,还更新了对温度、包装大小、净重的分类及烘烤测试的间隔时间。
J-STD-020E版标准由JEDEC JC-14.1封装器件可靠性测试方法标准委员会与IPC B-10a塑封芯片载体开裂标准技术组联合开发,发布前已经由JEDEC和IPC共同做最终评估。

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