爱德万全新T2000系统满足CMOS图像传感器测试需求-佳工网




爱德万全新T2000系统满足CMOS图像传感器测试需求 12/31/2013

爱德万测试宣布推出全新T2000 ISS IPE2系统，新系统大幅加速图像处理时间，缩短目前智能型手机、平板计算机、数字相机摄影机所用的高画素高阶CMOS影像感测组件测试时程，进而降低组件单位成本，让客户推出更具价格竞争力的消费性电子产品。 T2000平台全新测试模块搭载四核心CPU ，图像处理引擎更强大，同步测试组件可分别利用不同独立引擎进行测试，高像素高阶CMOS影像感测组件测试时间将能降低46%之多。爱德万测试执行副总裁Satoru Nagumo表示：“这套全新高速图像处理系统是专为因应高像素、高画质CMOS影像感测组件趋势所开发，其强大功能不仅可满足目前业界迫切需求，更能让客户从容面对未来挑战。” 爱德万测试全新T2000 ISS IPE2系统已开始向全球客户出货。