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致茂电子Chroma 藉由多年在光电测试领域与自动化设计等经验，针对激光业界普遍无法在芯片端Chip on Submount 进行特性检测与烧机测试等提出崭新的自动化激光芯片测试解决方案。
激光二极管特性测试机 (Model 58620)
致茂电子所推出的激光二极管特性测试机为一全新概念机种，专为激光半导体(Laser Diode)所打造设计，搭配自动化特性检测All-In-One设计概念，可供不同的测试项目同时进行检测；搭配高容量的载具设计，可供多颗激光芯片(Chip level)进行大量测试；另外藉由光学定位辅助(AOI) ，可提升自动化检测的速度与可靠性；高稳定性的温控平台设计，可让研发人员精确地了解激光半导体特性与温度的关系。
高精密共享载具:
主要应用于边射型Edge-Emission激光使用(包括CoC，CoS，Laser-bar等)，载具的设计为因应大量测试，制作为双边对称结构，最多可放置80颗待测物，特殊的多层次载具专利设计可让激光半导体不互相干涉并可靠的与探针结合进行测试。传统在激光半导体前段测试过程中，需经过多次的烧机测试(Burn-In)与特性检测制程(characterization)，在更换载具的过程中常会损坏待测物减低良率，共享载具的好处可让研操作员只需要在第一次将激光半导体放置于载具中，即可在不接触待测物之下完成所有必要的检测，此设计亦可搭配Chroma 58601烧机测试机。
自动对焦系统与光学辅助定位:
利用光学辅助定位的原理(AOI)使得Focuser快速达到激光发光区(Emission Region)并进行搜寻最大发射功率点可加速测试，大幅减低光纤耦合调校时间与测试人力。
高精准度温控平台:
激光二极管依据物理特性会强烈受到外在温度影响改变光谱与电性特性，因此在设计上加入了温控平台的设计并搭配Chroma 54130 的高精准度TEC温度控制器与51101温度纪录器，可确保载具的温度特性与均温性。平台温度上平均分布四组温度传感器加上中心点的温度控制器的回复点使得温控平台达到良好均，以及极佳的稳定性。
弹性化PXI测试平台:
致茂PXI解决方案具有开放式平，灵活性与快速整合能力。 搭配致茂独家设计的高精准双信道电源-量测单元(SMU) 52400 系列，可提供四象限(4Q)电流电压源与量测功能，日后客户可依照不同功率的需求搭配不同的SMU，提供激光半导体完整的电性量测。 致茂光功率计52961(optical power meter)，藉由搭配不同的波段光检知器，可提供大范围的光谱量测与宽动态量测范围(80db)，可完整提供不同功率与发光特性的激光半导体使用。
整合以上多种功能的自动化激光芯片检测系统将是一套全新并可有效降低人工的优质设备，也将会是您有效提高机光二极管测试产出率的最佳选择。
如需更进一步的产品信息，请至Chroma 官网查询 www.chroma.com.cn
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