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蔡司助力第五届数控大赛 三坐标现场检测精准高效 8/25/2012
蔡司助力第五届数控大赛 三坐标现场检测精准高效(点击放大)

据悉,2012年7月23日,第五届全国数控技能大赛暨第42届世界技能大赛数控车、数控铣选拔赛在北京隆重开赛。德国蔡司有幸首次赞助数控大赛,三坐标测量仪Contura G2在比赛现场为选手的作品进行现场检测,也是比赛首次选拨高精度检测仪器进行客观检测,提高检测结果的公信度,成为本届数控大赛的亮点之一。
此次助赛的三坐标测量机Contura G2是蔡司最为成功的机型之一,是一款一机多用的扫描平台,拥用极高的灵活性、测量精度和稳定性。Contura G2 RDS 配置 VAST XXT 扫描探头,可自由、快速旋转探针,扫描范围达到任何的角度位置。
据了解,Contura G2 Active 具有自定心功能,可测量深孔元素,具有对尺寸、形状及位置的高可靠性测量。VAST的扫描技术使工件的形状检验可以最快的速度获得高品质测量结果,可及早发现加工过程中的变化,确保产品质量并将废品率降至最低。集成Navigator技术的VAST万能扫描探头能高速高精度测量单点及多点,在测量时间降低的同时可以高密度处理数据。

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