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| 2012年GE无损检测技术典型应用案例交流会顺利在上海召开 11/13/2012 | |
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2012年10月31日-11月2日，“2012年GE无损检测技术典型应用案例交流会”在上海GE中国科技园顺利召开。此次会议的目的是为了深入反映我国无损检测界所面临的全新挑战，展示业界的智慧成果，通过实际检测应用案例的分享和介绍，提升我国无损检测界的实际检测应用水平。
此次会上介绍的15个精选案例，是经过为期一个多月的案例征集，从30多个提交案例中，经过专家评审会从实用性、行业代表性、技术性、经济成本以及对其它行业的借鉴意义五个方面综合考虑评选出来的，分别由GE的专家、相关行业内的专家及用户来介绍。内容涉及超声、X射线、相控阵、数字射线、内窥镜等技术，行业涉及航空航天、电力、石油天然气、冶金等。
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