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如今，功耗已经成为集成电路唯一主要的设计约束条件，但电源完整性很少引起人们的注意，尽管它在决定电源和能耗方面扮演着举足轻重的作用。大多数人都会注意到，如果将娱乐室内的灯光调得太暗，电视屏幕上亮度的急剧变化会伤害我们的视力。因此减少照明能耗的工作效果直接取决于我们遇到的‘光噪声’。对IC来说原理是完全一样的，通过降低供电电压来最小化能耗是最基本的方法，这种方法直接依赖于电源网格噪声或电源完整性。电源完整性是目前SoC和SiP面临的下一个主要挑战，因为电源和能量仍是主导的设计约束条件。
电源完整性概念
简单地讲，电源完整性是指特定电源与理想状态的接近程度，具体取决于电源的自然特性。对于家用设备电源来说，主要关心的是电压幅度和频率，即不管附近的负荷和用电限制如何变化，电压幅度和频率能够保持多大的稳定性。我们可能都会注意到，当大型空调或电冰箱压缩机启动时灯会变暗，这就是电源完整性的劣化现象。
集成电路没有什么不同？虽然它们一般使用几伏到1伏的直流电源。通过了解IC的部分电路在打开和关闭以及增加和减少功能时，在这一恒定电压上产生的降压和过冲，就能很好地理解IC的电源完整性。对于优秀的电源完整性而言，重要的是供电电压差值中发生的降压和过冲或瞬时(和静态)变化保持在很小的范围内，比如标称值的5%，从而使集成电路保持可预测的性能。 （图片） IC电源网格中供电电压变化的主要成份是IR压降和L×(di/dt)，虽然其他噪声成份有时也会占主导地位，比如传播和反射噪声以及谐振噪声等。目前EDA行业的分析工具采用IR压降变异方法来分析集成电路各个部分的电压下降。随着工艺尺寸的不断缩小，相对重要的电源完整性噪声成份也在快速变化，主要是因为目前的大多数集成电路通过含有电路开关电流的二进制运算发挥功能，并与时钟信号同步。随着工艺向纳米级发展，这些开关速度将迅速提高，相应就提高了片上的di/dt，因此现在必须检查‘总的电源完整性’，包括L×(di/dt)和其他电磁效应，而不仅只是IR压降或它的派生因素。
环路电感、L×(di/dt)和工艺的影响
电源完整性研究表明，从封装电容到处理器的环路电感需要按工艺变化系数的3次至5次方变化才能使改进工艺与前代工艺保持相同的电源完整性。在本例中，环路电感确定了从封装电容到处理器要求的瞬时电荷的响应时延,以及处理器供电电压的相应压降。
同样，片上环路电感决定了从芯片或封装区域中存储的电荷被放电到需要瞬时充电区域的响应延时，这些区域如快速开关的功能块或同时受时钟触发的寄存器组、触发器或大量逻辑门。环路电感L与电流上升速率di/dt也将产生一个电压降——L×(di/dt)，这个压降会叠加到由电源分配网络中线电阻引起的任何一个瞬时电压降上。因此有必要通过试验来判断连续的工艺升级如何影响后一代产品的L×(di/dt)电压降(噪声)。为了完成这个试验，考虑到工艺升级、获取的好处和最终结果，根据目前的行业趋势做出以下假设：
·单位面积的电容Ca，调整比例为（图片），大约(1/0.7)，其中0.7是典型的制造工艺导致的缩放系数(95nm到65、45、32等)，
· 工作电压调整比例为1/（图片），减少量仅约为16%，
· 频率调整比例为（图片），可以有40%的改进。
· 芯片面积调整比例为1/（图片），只减少30%，而不是50%，这表明为了提高缩放后工艺的性能而集成了另外的电路。
在上述假设下，参考“两次缩放的根”可以得到有效功率，此时假设等式αCV2ƒ在工艺缩放前后保持不变。在这种缩放情况中，硅片面积减少了，从而减少了成本，提高了频率和集成度，并增加了性能，同时功率损失保持不变(假设有更好的漏电流控制技术使漏电功率保持不变)，从而使经济效益仍然遵循摩尔定律。
·在上述缩放条件下，平均有效电流的缩放系数为电压缩放系数的倒数，即（图片），因为功率保持不变。
· 由于频率缩放系数为（图片），因此di/dt缩放系数为（图片）x（图片）。
·另外，由于芯片面积缩放系数为1/（图片），因此每边的缩放系数(假设是正方形芯片)为1/（图片）。
如果每边尺寸更小，并假设电源总线用相同的宽度和间距绘制，那么每条边的并行总线数量减少1/（图片），或有效电感增加（图片）。
将工艺缩放后的该芯片中的L和di/dt相乘可以得到：
·L×(di/dt)缩放倍数为（图片）x（图片）x（图片），或2倍。
上述这些计算显然是高度简化的，缩放系数也很不精确，但趋势是肯定的。随着向更精细工艺尺寸的演进，开关边沿速率将越来越快，而为了节省有效功率降低和漏电功耗，器件越来越小，工作电压也越来越低。虽然功耗可能保持不变，甚至有望减小，但更快的工艺要求更快的电荷传送，或通过更少的可用资源(如金属电源线)和更小的电容提供更大的电流，从而导致更高的电压降。
从这个简单的导出公式可以看出，每一次工艺升级都会使L×(di/dt)噪声加倍，从而对支持元件提出更高的要求，详见参考文献[4]，虽然功率不变。例如L×(di/dt)或感应噪声导致的电源网络噪声在180nm工艺时为9mv数量级。根据导出趋势，45nm节点将产生16倍之多的感应噪声，或约144mv，约是电源微分值的15%，或3倍的允许最大噪声。学术研究也表明了相同的趋势，即感应噪声随上升时间呈2次方增加，这个上升时间取决于电源分配网格的PEEC建模。IR压降工具可能完全遗漏这种电源完整性。
芯片或模块设计师会发现，更先进的工艺将增加平均供电电流，他们必须在电源分配网格设计方面做出艰难的选择。有时需要依靠被过度吹捧的‘完全拷贝’方法，这时设计师可以将相同部分的金属资源分配给电源分配网格，就像前代芯片那样(这样做可以起作用，但必须正确完成!)。就像我们前面推导的那样，缩放后芯片中的瞬时感应噪声数量将增加一倍。
下面，将详细介绍电源完整性设计中的最优IR压降方法，以及片上电感对电源完整性所带来的影响。另外，还将详细介绍像45nm这类更新的工艺节点上，电源完整性经常存在的导致器件良率下降的问题，包括呈2次方或指数式增长的L×(di/dt)噪声，全面电源完整性技术和EDA工具的严重缺乏，无法清楚地理解芯片电源完整性等等。最后将讨论针对上述这些问题的可能解决方法。
IR压降与片上电感
那些更负责任的设计师会遵循最优的IR压降方法，并推导出平均芯片电流会增加，因此需要更多的电源网格金属。设计师面临着两种选择，一种是增加电源总线的数量，这意味着减少总线间距，一种是增加总线中金属走线的宽度，但受布线要求的约束。通常设计师会选择增加金属走线宽度，而不选择减少总线间距而使布线更加拥挤，并利用IR压降工具来改善噪声。遗憾的是，这种解决方案很不实用，特别是当主要的噪声来源是L×(di/dt)时，因为增加金属走线宽度和总线间的轴向隔离度对改善噪声的作用非常有限，甚至会出现负面影响。除此之外，高频电流通常被限制在电源总线的低电感区域。
上述两种都存在缺陷的方法有一个共同的因素，即它们异乎寻常地依赖于先前的知识和经验，而不是依靠全面的验证来弥补方法的不足。可以预见的是，这种不适当的依赖性肯定会降低工作质量甚至最终结果，就像包含许多不确定性的金融投资那样，过去的业绩并不能保证未来结果。这种业界惯性致使人们无法转向全面的电源完整性分析，主要是因为严重缺乏高效和精确的建模技术及EDA工具，以便对IP模块、多内核芯片和整个电源系统进行快速、全面、真正的电磁仿真。
事实上学术界的研究表明，通过在电源网格仿真中包含感应噪声可以更好地优化电源金属面积。某篇关于片上电感对电源分配网络设计的影响的论文中写道，90nm工艺的电源网格中金属面积使用率约有30%的增加或减少，在45nm工艺时通过全面的片上电源网格电感建模可以有高达60%的改进。（图片）
用于栅噪声评估的三角形负载电流外形图电源完整性问题
呈2次方或指数式增长的L×(di/dt)噪声，能够帮助IP内核和芯片设计师快速仿真和分析物理设计的全面电源完整性技术和EDA工具的严重缺乏，无法清楚地理解芯片电源完整性的各个方面，SoC设计势不可挡地转向更精细的纳米级尺寸，这些因素共同导致了器件良率的下降，最终造成工艺尺寸减小的经济可行性下降。（图片）
来自两个源的电源噪声叠加（线宽10μm，间距50μm）采用纳米级工艺的半导体器件变异以及为了降低能耗而采用越来越低的工作电压进一步加剧了良率问题。低功率和低能耗设计并不等同于没有电源完整性问题。事实上刚好相反，低能耗设计将引入额外的复杂性，如以不是十分显性的方式影响电源完整性的电源选通(Power Gating)。工作电压只有零点几伏的实用性芯片要想达到合理的集成度和性能，需要对它们电源上允许的很窄带宽的噪声进行深入地理解和全面的验证。另外一种方法是将所有已经确定的面积和功效数字逻辑电路转换成采用纳米级工艺，并且特别能容忍噪声，可能差分的电流模式电路。
由于在全面电源完整性方面缺少足够的先进方法和高效工具，我们似乎注定要面对严重的工艺缩减障碍，虽然可能不是比电源障碍更严重。表1：不同电源栅尺寸对应的最大电压降
（图片）潜在的解决方案途径
因此随着SoC设计向65和45nm节点的纵深发展，必须深刻领会影响IC电源完整性的所有因素。在电源分配网络中包含的所有电磁效应现在已是关键要求，可以通过采用高层抽象和物理仿真(如Anasim公司的π-fp)等工具加以满足。使用这种工具对目前的设计流程进行简单直接的修改措施如下：
* 在架构阶段就开始针对电源完整性的底层规划。
* 采用低电感、对称、IP内核和全局电源网络综合。
* 采用真正的电磁仿真优化电源网络尺寸，并确定最初的片上去耦电容策略。
* 优化底层规划布局以减少电源的‘总噪声’带宽；减少工作电压，并同时满足时序/性能要求。
* 利用静态IR下降仿真检查物理设计中的任何‘热点’及电迁移压力点。
* 包含系统级元件(如封装电容、供电连接等)，利用改进的模块电流参数再次运行真正的电磁、动态噪声分析，充分利用互连和去耦电容资源。
IP内核和全芯片/SiP/系统级的真正电磁仿真验证有助于确保设计师在设计过程中深刻理解呈指数式上升的L×(di/dt)噪声及其他噪声成份。这种在全面设计和验证方面做的前端投资非常重要，可有效避免设计反复、设计的重新流片，并防止出现高出基准几个数量级的良率故障或产品故障出现。
8/4/2008
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